如何在電路中獲得S參數(shù) - 9個方法(下)
繼續(xù)上期內(nèi)容。
方法6：Tran任務(wù)+全端口
優(yōu)點(diǎn)：時域信號，可用于時域調(diào)制等。
局限：復(fù)雜且參數(shù)多（頻域->時域->頻域）；仿真時間長且需要檢查收斂；單端口網(wǎng)絡(luò)激勵（非完整S矩陣）；
激勵一個端口高斯Signal：
仿真時長需要比較長，確保時域收斂，不然S參數(shù)有波動；這個和時域求解器原理一樣。
Tran任務(wù)中可勾選S參數(shù)計算，僅高斯激勵計算的S參數(shù)才有意義：
我們拿S參數(shù)任務(wù)的結(jié)果對比，可見大致相同，但不100%完全一致：
檢查時域信號的收斂狀況：
方法7：Tran任務(wù)+端口+探針
優(yōu)點(diǎn)：更多時域分析場景，比如時域調(diào)制等；
局限：復(fù)雜且影響因素多（頻域->時域->頻域）；仿真時間長；單端口網(wǎng)絡(luò)激勵（非完整S矩陣）；
我們保留端口1激勵高斯信號，然后利用探針獲取局部的信號，以便計算局部的S參數(shù)。多添加一個簡單電路端口2，也有信號，用來模擬復(fù)雜的Transient電路。
這樣結(jié)果文件夾就不是FD了，而是Spectral Density了：
和上期AC一樣，探針結(jié)果只有電壓電流，沒有Signal（根號瓦）。需要手動獲取S參數(shù)，那就還有要用耦合器區(qū)分入射反射的問題。
我們將兩個Tran任務(wù)的結(jié)果一起和S參數(shù)任務(wù)結(jié)果對比，可見兩個Tran任務(wù)結(jié)果很一致，但是都和S參數(shù)差一丁點(diǎn)。這是因?yàn)?，這兩個Tran任務(wù)用的是一個宏模型，我都沒改vector fitting的任何設(shè)置，也沒用IdEM。
放大看細(xì)節(jié)：
方法8：Tran任務(wù)+IDEM
優(yōu)勢：更先進(jìn)的頻域和電路轉(zhuǎn)換；檢查頻域數(shù)據(jù)的質(zhì)量；
局限：更多IDEM操作和學(xué)習(xí)，
方法6和7中都可以將頻域數(shù)據(jù)的宏模型用IDEM重新擬合生成，我們以方法7中的電路為例，點(diǎn)擊模塊：
選擇IDEM：
IDEM 中我們當(dāng)然可以檢查頻域數(shù)據(jù)的質(zhì)量，可見我們的頻域數(shù)據(jù)并不完美：
因?yàn)槲覀兊哪康氖且蚐參數(shù)任務(wù)結(jié)果一致，并不是研究該頻域數(shù)據(jù)質(zhì)量和保證宏模型的物理性，所以這類我們就用高階高精度擬合，不用強(qiáng)制無源：
導(dǎo)出宏模型進(jìn)入電路（Design Studio）：
還是Tran任務(wù)和手動計算S參數(shù)，與默認(rèn)built-in宏建模相比，IdEM擬合的結(jié)果更加接近原始Spara任務(wù)結(jié)果：（但這不能說明原結(jié)果是對的，可能強(qiáng)制無源的模型才是質(zhì)量更好一些）
當(dāng)然仍有一點(diǎn)點(diǎn)差距，我們可以嘗試增加時域時間提高收斂，或者再提高IdEM擬合精度等等。這些我們就不繼續(xù)看了，總之，頻域轉(zhuǎn)時域再轉(zhuǎn)頻域不是一鍵容易的事，但是仍是一種計算S參數(shù)的方法。
方法9: Sweep任務(wù)+頻譜線任務(wù)+電壓源+探針+耦合器
優(yōu)點(diǎn)：純頻域分析；可考慮諧波、調(diào)制等；探針獲取局部S參數(shù)；無端口；
局限：操作較多；掃頻計算較慢；
最后介紹一個特殊方法，掃頻譜獲得S參數(shù)。先定義頻點(diǎn)參數(shù)，初始值不為零：
需要AC電壓源和探針：
添加頻譜線任務(wù)，諧波數(shù)量根據(jù)調(diào)制需求：
運(yùn)行一次得到結(jié)果，添加后處理提取該頻點(diǎn)的探針結(jié)果（幅值而已）：
三個探針結(jié)果：
然后添加參數(shù)掃描，將頻譜任務(wù)連帶后處理都拖入其中：
運(yùn)行參數(shù)掃描，得到眾多結(jié)果后，進(jìn)入后處理PP1，計算S11和S21：
如果想重新掃描，可以將S11和S21這兩個關(guān)掉（默認(rèn)On（parametric）是用于掃參計算）。
這樣就得到1D結(jié)果：S參數(shù)線性幅值。如果想和S參數(shù)任務(wù)的1DC結(jié)果相比，還需要提取1DC的幅值；如果比dB幅值或相位，就相應(yīng)修改S11和S21的后處理計算式吧。
小結(jié)：
方法6：Tran任務(wù)+全端口
優(yōu)點(diǎn)：時域信號，可用于時域調(diào)制等。
局限：復(fù)雜且參數(shù)多（頻域->時域->頻域）；仿真時間較長；需要檢查收斂；全端口網(wǎng)絡(luò)激勵（完整S矩陣）；
方法7：Tran任務(wù)+端口+探針
優(yōu)點(diǎn)：更多時域分析場景，比如時域調(diào)制等；
局限：復(fù)雜且影響因素多（頻域->時域->頻域）；仿真時間較長；需要檢查收斂；單端口網(wǎng)絡(luò)激勵（非完整S矩陣）；
方法8：Tran任務(wù)+IDEM
優(yōu)勢：更多時域分析場景，比如時域調(diào)制等；更先進(jìn)的頻域和電路轉(zhuǎn)換；檢查頻域數(shù)據(jù)的質(zhì)量；
局限：更多IDEM操作和學(xué)習(xí)；復(fù)雜且影響因素多（頻域->時域->頻域）；仿真時間較長；需要檢查收斂；單端口網(wǎng)絡(luò)激勵（非完整S矩陣）；
方法9: Sweep任務(wù)+頻譜線任務(wù)+電壓源+探針+耦合器
優(yōu)點(diǎn)：純頻域分析；可考慮諧波、調(diào)制等；探針獲取局部S參數(shù)；無端口；
局限：操作較多；掃頻計算時間更長；不可計算DC。
