超材料光子晶體色散圖CST仿真實例
來源：CST仿真專家之路
更新時間：2024-06-23
閱讀：
之前寫過二維光子晶體六邊形周期結(jié)構(gòu)的色散圖仿真，以及多重模式下利用布洛赫定理進行模式挑選。
2022新功能包括直接定義60度XY軸的六邊形周期結(jié)構(gòu)，得到色散圖。使用六邊形色散圖模板，注意單位：
模板自動定義好60度的相位掃描公式和掃描參數(shù)PathPara:
建模，與之前案例一樣，是個真空圓柱孔，背景有材料但我們沒顯示。
查看邊界，單元邊界加電邊界，模擬TM模式：
周期性默認(rèn)為1，XY軸成60度：
E求解器設(shè)置：
不要直接開始仿真，色散圖需要掃參?？上炔榭淳W(wǎng)格：
進入?yún)?shù)掃描，默認(rèn)11個采樣點開始掃描：
查看結(jié)果：
可添加后處理將結(jié)果歸一化：
與舊版本手動方法的結(jié)果或文獻結(jié)果一致：
參考文獻：
J.D. Joannopoulos, “Photonic Crystals:Molding the Flow of Light”, Chap. 5
小結(jié)：
1. 2022.2版本新支持六邊形結(jié)構(gòu)的色散圖直接求解，邊界為單元，相位掃參公式由模板定義。
2. 舊版本方法已經(jīng)介紹過了，色散圖計算原理也寫過很多，這里就不寫了。
