接觸靜電和非接觸靜電的區(qū)別
靜電放電(ESD)造成的危害:引起電子設(shè)備的故障或誤動(dòng)作,造成電磁干擾。
擊穿集成電路和精密的電子元件,或者促使元件老化,降低生產(chǎn)成品率。
高壓靜電放電造成電擊,危及人身安全。
在多易燃易爆品或粉塵、油霧的生產(chǎn)場(chǎng)所極易引起爆炸和火災(zāi)。
靜電引力(ESA)造成的危害:電子工業(yè):吸附灰塵,造成集成電路和半導(dǎo)體元件的污染,大大降低成品率。
靜電對(duì)LED燈珠的危害,因瞬間的電場(chǎng)或電流產(chǎn)生的熱,使LED燈珠局部受傷,表現(xiàn)為漏電流迅速增加,仍能工作,但亮度降低(白光將會(huì)變色),壽命受損。
因電場(chǎng)或電流損壞LED燈珠的絕緣層,導(dǎo)致LED燈珠出現(xiàn)損壞,無(wú)法工作,主要表現(xiàn)為死燈。
靜電測(cè)試方法
靜電測(cè)試前的準(zhǔn)備工作:
連接好準(zhǔn)備測(cè)試的設(shè)備,確保測(cè)試前的設(shè)備是正常運(yùn)行的。
連接好靜電放電測(cè)試儀,確保測(cè)試儀的地線(xiàn)與設(shè)備的地線(xiàn)相互連接,形成放電回路。
接觸靜電測(cè)試
測(cè)試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼,電源接口,控制接口,以及通訊接口等。
測(cè)試順序標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試順序?yàn)橄却_定電壓,再確定頻率。電壓由低到高,頻率由慢到快。即依次為2kV低頻測(cè)試,2kV高頻測(cè)試,4kV低頻測(cè)試,4kV高頻測(cè)試,直到20kV低頻測(cè)試,20kV高頻測(cè)試。在提高精度測(cè)試過(guò)程中也同樣遵循先確定電壓,再確定頻率這一原則
非接觸靜電測(cè)試
測(cè)試電壓標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試靜電電壓從2kV開(kāi)始增加,每次增加2kV,直到20kV為止,即測(cè)試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV.測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn),硬件無(wú)任何損壞,通訊正常,數(shù)據(jù)無(wú)錯(cuò)誤,丟失等情況。
參考標(biāo)準(zhǔn)