ESD標(biāo)準(zhǔn)和測試
01. 基本概念
EMC包含EMI（干擾）和 EMS(抗干擾）兩部分，前者是指對電子產(chǎn)品在電磁場方面干擾大小后者是指產(chǎn)品抵抗干擾的能力，說通俗點就是一個是干擾別人，一個是抵抗別人干擾，而ESD（Electro-Static discharge）的意思是“靜電釋放”，屬于EMS的一種。
02. 測試標(biāo)準(zhǔn)
針對ESD測試，最常用的標(biāo)準(zhǔn)目前最新的是IEC 61000-4-2：2008及國標(biāo)GB/T 17626.2-2018，兩者只有語言的差異，內(nèi)容是一致的。
03. 人體模型
===>人體電容
如果人體接近周圍某些物體或者墻壁等，會增加50~100pF的電容量，所以人體的電容等于人體自由空間電容和平板電容的總和，大約為50~250pF左右。
===>人體阻抗
人體阻抗=外部阻抗+內(nèi)部阻抗，其中內(nèi)部阻抗=體內(nèi)電阻（約500Ω）+皮膚電阻（約2kΩ），手握金屬工具的人體電阻大約為330Ω。外部阻抗包含服裝及身體潮濕情況。另外環(huán)境因素如粉塵，潮濕，油污，皮膚傷口等都會降低人體電阻值。
===>人體靜電放電模型
下圖為人體靜電放電模型。電荷儲存在人體電容中，通過一個等效的人體電阻產(chǎn)生放電。
04. 設(shè)定參數(shù)
下圖為ESD測試中靜電放電發(fā)生器的簡圖（摘自IEC 61000-4-2），類似人體模型，里面定義了2個參數(shù)，Rc是充電電阻，取值為50MΩ~100MΩ，RD為放電電阻，取值為330Ω±10%，Cs為儲能電容，Cd為分布電容(存在于發(fā)生器和被試設(shè)備之間，參考接地板和耦合板之間)，兩者之和取150pF±10%。 
05. 具體操作及注意事項
首先嚴格按照下圖法規(guī)要求進行環(huán)境搭建。
測試應(yīng)當(dāng)以單次放電的方式進行，在預(yù)選點上，至少施加10次單詞，特別是最敏感的極性。
測試中單次放電一般以1次/秒的速率放電，單詞間隔也建議1s，以免系統(tǒng)出現(xiàn)問題。另外放電點以20次/秒甚至更多的方式來進行試探選擇。
另外要注意的是實施放電時，發(fā)生器的放電回路電纜和被測產(chǎn)品距離應(yīng)保持0.2m，接觸放電的情況下，放電電極的頂端在開關(guān)之前接觸被測產(chǎn)品。
如果產(chǎn)品表面有涂層但又沒有說明是絕緣層，那發(fā)生器的點擊頭要穿入漆膜下以便和導(dǎo)電層接觸，如果指明是絕緣層，那只能進行空氣放電，不應(yīng)該進行接觸放電測試。
在空氣放電時，放電電極的圓形放電頭要盡可能的接近并觸碰被測產(chǎn)品，每次放電后，要將放電發(fā)生器的挪開，然后重新觸發(fā)發(fā)生器，再次測試，重復(fù)動作直到測完為止。
所有耦合版的間接放電測試，都要將被測物品放置在距離耦合板10cm的位置處，對耦合板施加至少10次的單次放電。
06. 結(jié)果判定
測試結(jié)果由產(chǎn)品制造商或者需求方確認，或者雙方協(xié)商同意，一般分為4類：
A，在規(guī)定的限制內(nèi)性能正常，一般就是沒有任何問題。
B，功能或者性能暫時喪失或降低，停止測試后自動恢復(fù)，不用人為操作，一般就是自己能恢復(fù)的就行。
C，功能或者性能暫時喪失或降低，但是自己不能恢復(fù)，需要人為干預(yù)，一般就是自己好不了的，斷下電或者重啟就好了。
D，硬件或者軟件損壞，或者數(shù)據(jù)修飾不能恢復(fù)的功能喪失或者性能降低，一般就是沒辦法恢復(fù)了，元器件壞了或者怎么都恢復(fù)不了。
一般ESD評估及測試相關(guān)的參數(shù)和注意點都如上列出了，其他就不一一羅列了，具體可參考IEC 61000-4-2或GB/T 17626.2。
