CST兩次時(shí)域仿真得到的信號(hào)長(zhǎng)度和采樣間隔都不一樣

時(shí)域仿真，模型沒有其他變動(dòng)，兩次仿真只改了材料屬性。但是兩次仿真出來得到的信號(hào)長(zhǎng)度不一樣，時(shí)間間隔也不一樣。
在后處理器中重新采樣后，數(shù)據(jù)點(diǎn)個(gè)數(shù)一樣了，但時(shí)間長(zhǎng)度和時(shí)間間隔還是不一樣。
請(qǐng)問這是什么原因造成的呢?我在瞬態(tài)求解器中勾選了special time domain sovler parameter-General中的Automatic time signal sampling，是否和這個(gè)有關(guān)系呢?
以及我發(fā)現(xiàn)，雖然我沒有去改網(wǎng)格的參數(shù)，但仿真結(jié)束后網(wǎng)格的參數(shù)卻自己變了，具體如下圖：

得到的信號(hào)長(zhǎng)度不一樣是否跟網(wǎng)格變化了有關(guān)系呢?請(qǐng)問這個(gè)問題要怎樣解決呢?

材料不一樣，信號(hào)的傳輸速度不一樣，進(jìn)而時(shí)間長(zhǎng)度不一樣，這是正常現(xiàn)象

我的結(jié)構(gòu)是雙層的，觀察的是反射信號(hào)，所以信號(hào)實(shí)際上只在第一層介質(zhì)中傳輸，僅僅接觸到第二層和第一層的交界面，第二層介質(zhì)的材料屬性不會(huì)影響到傳輸速度。

好好看看