放大器的測試指標(biāo)可以分為兩類:線性指標(biāo)測試和非線性指標(biāo)測試。線性指標(biāo)的測試基于S參數(shù)的測量,采用常規(guī)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀完成。對于非線性指標(biāo)的測試,傳統(tǒng)測試方案采用頻譜儀加信號源方法,但這種方案有很多缺點(diǎn):1)無法實(shí)現(xiàn)同步掃頻、掃功率測試。2)不能進(jìn)行相位測量,如幅度相位轉(zhuǎn)化(AM/PM)測量。
R&S ZVB采用創(chuàng)新的硬件結(jié)構(gòu),其輸出功率很高、功率掃描范圍寬,因而無需另外單獨(dú)使用前置放大器,一次掃描即可確定放大器功率壓縮特性。ZVB采用了強(qiáng)大的自動電平控制設(shè)計(jì)以及高選擇性、高靈敏性的接收機(jī),因而可在較寬的動態(tài)范圍下進(jìn)行放大器的諧波測試而無需使用外部濾波器。
此外R&S ZVB提供了豐富的測試功能和友好的操作界面,使得放大器的各種指標(biāo)測試變得簡單又直觀。
端口匹配特性測量
端口匹配特性主要測試端口的S11與S22參數(shù)。如端口1的S11參數(shù)等于反射信號b1與入射信號a1之比:
S11參數(shù)也可稱為輸入反射因子。S11為復(fù)數(shù),工程上通常用回波損耗(RL)和駐波比( VSWR)來表達(dá)端口的匹配程度。S11與這兩個(gè)參數(shù)的關(guān)系如下: 回波損耗 RL = - 20log(r),其中r = |S11|
駐波比
以上兩個(gè)參數(shù)與S11的換算由ZVB自動完成,用戶只需要在[Format] 菜單中選擇[dB Mag]->回波損耗,[SWR]->駐波比,就可以顯示相應(yīng)的測試曲線。
ZVB提供軌跡統(tǒng)計(jì)功能[Trace Statistics],可自動顯示軌跡的最大值、最小值和峰-峰值,并且可以通過設(shè)置 [Eval Range],來調(diào)整統(tǒng)計(jì)頻率范圍。該功能對帶限器件(如濾波器)的帶內(nèi)指標(biāo)測試非常有用。
在電路設(shè)計(jì)的過程中,精確輸入阻抗信息對于設(shè)計(jì)人員更為重要。比如:在手機(jī)板設(shè)計(jì)中,設(shè)計(jì)人員要精確測試前端放大器的輸入、輸出阻抗,然后根據(jù)輸入、輸出阻抗信息設(shè)計(jì)對應(yīng)的匹配網(wǎng)絡(luò),達(dá)到手機(jī)的最大功率發(fā)射和最佳的整機(jī)靈敏度。輸入阻抗與S11的關(guān)系如下: , 其中Z0=50Ω
用戶通過選擇[Format] 鍵中的[Smith]菜單顯示阻抗測試軌跡,通過設(shè)置Marker可以方便的測得每一頻點(diǎn)對應(yīng)的輸入電抗和電阻。另外ZVB標(biāo)配的虛擬加嵌功能,能模擬在輸入、輸出端口加上虛擬的匹配網(wǎng)絡(luò)之后整個(gè)網(wǎng)絡(luò)的性能。該功能大大簡化了設(shè)計(jì)人員的工作量,無需實(shí)際的電路調(diào)整,就能預(yù)測調(diào)整后的DUT性能。用戶通過選擇[Mode]菜單中的[Virtual Transform]來激活該功能。
傳輸參數(shù)測量
除了端口匹配特性的測量,放大器前向放大和反向隔離特性也可分別由測試S21和S12得到。前向的傳輸參數(shù)S21等于在端口2測得前向功率b2與端口1的激勵功率a1的比值:
而放大器的增益等于S21絕對幅度的對數(shù)值: 增益 Gain =
反向的傳輸參數(shù)S12等于在端口1測得反向功率b1與端口2的激勵功率a2的比值:
而放大器的反向隔離度等于S12絕對幅度的對數(shù)值: 隔離度 Isolation = -20log( |S12| )
用戶只需分別設(shè)置S21和S12的 顯示格式為dB([format] -> [dB Mag]),放大器增益和隔離度即可同時(shí)顯示在ZVB上。
功率壓縮特性測量
功率壓縮特性的測試主要用來衡量待測件(DUT)的線性度。對于放大器的測試,工程上通常采用輸出功率1 dB壓縮點(diǎn)(P1dB )來表征該特性。P1dB的定義為:隨著輸入功率的增加,放大器的增益下降到比線性增益低1dB時(shí)的輸出功率值,如圖1所示。
ZVB不僅可以測量參數(shù)隨頻率變化的曲線還可以測量參數(shù)隨輸入功率變化的曲線。ZVB內(nèi)置信號源可以提供非常大的功率掃描范圍,其典型值為60dB,而且60dB的功率掃描范圍完全由電子衰減器來實(shí)現(xiàn)而非采用傳統(tǒng)的機(jī)械步進(jìn)衰減器。機(jī)械式衰減器的幅度可重復(fù)度較差且使用壽命較短,所以ZVB特別適合測試有源器件的功率壓縮特性。
ZVB提供多通道(Channel)的測試功能,不同的通道可以設(shè)置不同的掃描方式,所以可以在一個(gè)通道內(nèi)設(shè)置頻率掃描用于測試S參數(shù),而在另一通道內(nèi)設(shè)置成功率掃描用于測量功率壓縮特性,這樣調(diào)試人員就可以在調(diào)試放大器S參數(shù)的同時(shí),觀察放大器P1dB的變化。用戶可通過[Chan select]鍵,選擇[Add Channel + Trace +Diag Area] 菜單來增加一個(gè)測試通道,然后選擇[Sweep]鍵中的[Sweep type]菜單,選擇[Power]就可以進(jìn)行功率掃描測試。另外ZVB 在軌跡統(tǒng)計(jì)功能[Trace Statistics]中提供了自動尋找增益壓縮點(diǎn)的功能[Compression Point],方便用戶快速讀值。
P1dB的測量涉及到S21隨著絕對輸入功率變化的曲線,而矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀通常用于S參數(shù)相對量的測量。為了提高其絕對測量精度,推薦使用的功率計(jì)對矢量網(wǎng)絡(luò)做功率校準(zhǔn)。R&S公司的NRP系列功率計(jì)可以通過USB接口直接和ZVB連接,從而省掉功率計(jì)主機(jī)和昂貴的GPIB卡。ZVB功率校準(zhǔn)過程分成兩個(gè)過程:矢量網(wǎng)絡(luò)的內(nèi)部源幅度校準(zhǔn)和接收機(jī)幅度校準(zhǔn)。在第一個(gè)過程中將功率探頭直接和矢量網(wǎng)絡(luò)的源端口連接,對應(yīng)選擇 [CAL]鍵下的菜單[Start Power Cal]-> [Souce Power Cal]。 第二步將已校準(zhǔn)的源端口和接收端口連接進(jìn)行接收機(jī)的校準(zhǔn),對應(yīng)選擇 [CAL]鍵下的菜單[Start Power Cal]-> [Receiver Power Cal]。
諧波測量
隨著激勵功率的增加,放大器將進(jìn)入非線性工作區(qū),不僅會出現(xiàn)輸出功率壓縮現(xiàn)象,還會出現(xiàn)非線性頻率分量。這些新的頻率輸出分量多為輸入頻率的整數(shù)倍,稱為諧波分量。設(shè)計(jì)人員往往比較關(guān)心的是輸入基波分量與諧波分量的幅度差值,因?yàn)榉炔钤酱,意味著在同樣的直流輸入功率情況下,更多的功率轉(zhuǎn)換為所需的基 波功率,而非諧波功率,也可視為提高了放大器的效率。
傳統(tǒng)的放大器的諧波測量是通過信號源加頻譜儀的方式實(shí)現(xiàn),即用信號源作為激勵信號源,頻譜儀觀測基波和諧波的信號幅度。放大器的諧波測試往往需要測量不同輸入基波功率對應(yīng)的諧波輸出功率,或者測試不同的頻率點(diǎn)上同一輸入基波功率對應(yīng)的諧波輸出功率。傳統(tǒng)的方法須手動記錄或者編寫自動測試程序進(jìn)行測試。
相對于這些繁瑣的方法,ZVB提供了更為靈活的解決方法。ZVB打破了傳統(tǒng)矢量網(wǎng)絡(luò)信號源和接收機(jī)必須工作在同一頻率上的限制,可以使矢量網(wǎng)絡(luò)信號源和接收機(jī)工作在不同的頻率點(diǎn)上。具體對于諧波測量而言,可以讓矢量網(wǎng)絡(luò)源輸出基波信號,而接收機(jī)工作在諧波頻率上,并可方便實(shí)現(xiàn)對基波輸入頻率或輸入功率的掃描測試(圖2)。對應(yīng)ZVB的設(shè)置:可先通過[Chan Select]+[Add channel +trace+Diag Area]的方法來添加一個(gè)新的觀測窗口和新的測試通道。然后在[Mode]鍵下選擇[Harmonics]進(jìn)入諧波測試模式,而后通過選擇 2nd、3rd或者輸入其它諧波次數(shù)來測量對應(yīng)的諧波。
對于測試絕對諧波功率對輸入基波功率的變化,同樣推薦在測試前應(yīng)該進(jìn)行功率校準(zhǔn)。ZVB也提供諧波功率校準(zhǔn)的方法。通過[Harmonic Power Cal] 進(jìn)入功率校準(zhǔn)對話框,其基本操作過程與測試放大器功率壓縮特性時(shí)相同,只不過在進(jìn)行源功率校準(zhǔn)時(shí)的頻率為整個(gè)測試頻率,而在接收機(jī)校準(zhǔn)時(shí)的頻率為諧波頻率而已。
幅度相位轉(zhuǎn)化測量
放大器的非線性特性除了功率壓縮和產(chǎn)生諧波頻率兩個(gè)方面外,還有相位非線性特征,即隨著輸入功率的改變,放大器插入相移的變化。工程上通常采用AM/PM轉(zhuǎn)化來描述,其具體的定義為: 輸入功率每變化1dB,插入相移的改變量,單位為Degrees/dB(圖3)。
同功率壓縮特性的測量一樣,應(yīng)設(shè)置ZVB掃描類型 [Sweep Type] 為功率掃描 [Power]。測試軌跡為S21,但顯示格式[Format]應(yīng)設(shè)置為相位方式[Phase]。在測試過程中,可使用ZVB 提供Delta Marker與Reference功能方便地讀值。
穩(wěn)定性因子測量
理想狀況下放大器的輸入、輸出端接阻抗應(yīng)該為50Ω,但是在實(shí)際的電路環(huán)境下往往并非如此。而有些放大器在某些端接阻抗可能出現(xiàn)自激振蕩,從而產(chǎn)生許多無用雜散輸出信號。放大器的穩(wěn)定性是指放大器對產(chǎn)生自激振蕩的抑制能力。工程上一般把放大器的穩(wěn)定性狀況分為兩種情況:絕對穩(wěn)定和條件穩(wěn)定。絕對穩(wěn)定是指在任何端接阻抗條件下都不出現(xiàn)振蕩,而條件穩(wěn)定是指如果端接阻抗選擇的合適將不出現(xiàn)振蕩現(xiàn)象,但在某些端接阻抗上將出現(xiàn)自激振蕩。
穩(wěn)定性因子有多種定義的方法,ZVB支持三種穩(wěn)定因子測量。穩(wěn)定性因子的測量基于S參數(shù)的測量,其S參數(shù)的關(guān)系如下:
對于絕對穩(wěn)定放大器必須滿足:K>1和兩個(gè)附加條件: 1-|S11|2>|S12.S21|與1-|S22|2>|S12.S21|。而采用m1和m2來描述就不需要附加條件,滿足m1>1或m2>1即可斷定放大器為絕對穩(wěn)定。
通過簡單的設(shè)置,ZVB就可進(jìn)行放大器穩(wěn)定性測試(圖4),對應(yīng)選擇[Format]鍵下的[Stability]菜單,在彈出的對話框里選擇輸入、輸出端口和測試穩(wěn)定性因子的類型即可。
結(jié)束語
綜合所述,R&S ZVB 提供的眾多測試功能使其不僅適合放大器S參數(shù)測量也適合放大器幅度、相位非線性特性測量和穩(wěn)定度的測量,滿足放大器從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)諸多測試需求。 【微波EDA網(wǎng)】
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