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阻抗分析儀測(cè)試電子標(biāo)簽芯片

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如題,我在用阻抗分析儀測(cè)試標(biāo)簽芯片的阻抗時(shí),阻抗的實(shí)部常常是負(fù)數(shù),請(qǐng)問(wèn)是何原因啊？此外,為了便于測(cè)量,我用四分之波長(zhǎng)的同軸線,(特征阻抗為50歐姆)進(jìn)行轉(zhuǎn)化,用ZL=Z0*Z0/Zin計(jì)算之后的阻抗和實(shí)際測(cè)量的數(shù)值相差很大，請(qǐng)問(wèn)是什么原因？

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